Лаборатория располагает измерительным оборудованием ведущих международных фирм-производителей, которое позволяет осуществлять тестирование:
- тестирование БИС и СБИС (микросхем памяти и контроллеров);
- микросхем памяти и микроконтроллеров на основе БИС и СБИС;
- тестирование СВЧ-микросхем и компонентов (частотный диапазон: от 5 кГц ÷ 20 ГГц), конвертеров и детекторов с несущей частотой до 6 ГГц;
- СВЧ микросхем и компонентов с использованием:
- 4-х портового векторного анализатора цепей (10 МГц-40 ГГц) с возможностями: измерение S-параметров, измерение шумовых параметров, измерение параметров устройств со смещением фазы, измерение параметров устройств со смещением частоты;
- спектроанализатора (5кГц-20ГГц), и 2-х портового векторного генератора сигнала (100кГц-6ГГц) с возможностями смещения фазы, генерации 2-х тонового сигнала, сигналов специфической формы;
- тестирование цифровых сигнальных процессоров;
- тестирование АЦП;
- дискретных микросхем, в том числе ЦАП и АЦП;
- тестирование ПЛИС;
- преобразователей интерфейсов, протоколов, микросхем средней степени интеграции, Программируемых логических интегральных схем и других микросхем цифровой обработки сигналов;
- тестирование интегральных схем средней степени интеграции;
- тестирование пассивных элементов электронной компонентной базы;
- тестирование полупроводников (транзисторов, диодов, светодиодов, оптопар, источников питания, конвертеров, вентиляторов, реле, кварцевых генераторов, простых операционных усилителей, источников опорного напряжения).
